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SEM/AFM-DME原子力显微镜高精度工作台

供应数量:1234

发布日期:2024/10/5

有效日期:2025/4/5

原 产 地:丹麦

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DME原子力显微镜高精度工作台:
适用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合体系
高精度工作台:在亚微米的样品定位精度下寻找和发现你的目标区域(ROI)
样品定位是流畅和有效工作流程的关键,尤其是当样品需要多种方法观察或其处于自动化进程中
借助集成的参比光,定位精度优于蔡司的标准样品台可以达到的500nm
寻找和发现ROI的过程能够被更可靠的执行


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